主營(yíng)產(chǎn)品:X射線(xiàn)熒光光譜儀
鎳是一種銀白色的金屬,具有良好的機械強度和延展性。如果在不銹鋼中添加鎳可以改善不銹鋼的可塑性、可焊接性和韌性,全球三分之二的鎳應用于不銹鋼工業(yè),在電鍍、電子電池和航空航天領(lǐng)域也有著(zhù)廣泛的應用。ICP-OES 法測定鎳和鎳合金中痕量元素的主要優(yōu)點(diǎn)是線(xiàn)性工作范圍寬,多元素同時(shí)檢測,測定精密度高而且檢出限好。本文將敘述使用 SPECTRO光譜儀測定鎳和鎳合金中的痕量雜質(zhì)。
一、實(shí)驗部分
1、樣品制備:稱(chēng)1克鎳粉置于50ml的燒瓶中,加人20ml20%的HCL,逐步加熱直至樣品溶解。冷卻至室溫后,用去離子水稀釋至 50ml定容、混勻。
2、標準溶液制備:用100mg/1濃度的各元素標準貯備液準確加入不同量到高純鎳 (要求基體匹配,與樣品相同)溶液中,制備成濃度分別為0,0.5,1和5mg/1,體積為 50ml的標準系列。
3、儀器: SPECTRO直讀光譜儀
ICP工作條件表
二、結果與討論
對鎳樣品測定所選用的譜線(xiàn)和檢出限列于下表,檢出限(LOD)由空白樣品溶液 10次測量的標準偏差的 3 倍測定,而典型的背景強度的相對標準偏差小于1%。因此,德國斯派克光譜儀非常適用于鎳中痕量雜質(zhì)的測定。其檢出限可達到μg/kg 級。
鎳樣品測定所選用的譜線(xiàn)和檢出限
參考標準:光譜分析論文集