日本理學(xué)波長(cháng)熒光光譜儀對巖石樣品的分析及面掃描分析

廣州儀德公司專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡(jiǎn)單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(cháng)X射線(xiàn)熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域對巖石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。

使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。

紅框內擴大了的范圍由右圖表示。

可以更精密地測量位置。

面掃3描分析結果

微區測繪

測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來(lái)表示。圖示種類(lèi)有不同模式，可以采用有效的圖示。

各測量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線(xiàn)比較

SQX方法做的定點(diǎn)分析結果

γ-θ樣品臺解決了X射線(xiàn)照射不均以及分光晶體反射強度不均的問(wèn)題，保證樣品在X射線(xiàn)最佳條件下測量。

測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內。γ-θ平臺分辦率為100μm,實(shí)現了快速精確的點(diǎn)、線(xiàn)、面分析。