日本理學(xué)光譜儀有哪些優(yōu)點(diǎn)呢？一文看懂

　　日本理學(xué)光譜儀的檢定項目包括精密度、穩定性、X射線(xiàn)計數率、探測器分辨率以及儀器的計數線(xiàn)性，定期檢定的檢測結果需要符合的要求。規定了波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀的校準項目和技術(shù)指標(B級)，供檢定時(shí)參考。表格中N代表n次測量的平均計數值；λ代表分析元素X射線(xiàn)的波長(cháng)(以nm為單位)。

　　日本理學(xué)光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：

　　1、儀器結構簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運動(dòng)裝置,也無(wú)需精確調整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X射線(xiàn)管功率低,一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統，空氣冷卻即可，節省電力。

　　2、能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近,X射線(xiàn)的利用率很高,不需光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對樣品位置變化不象波長(cháng)色散型熒光光儀那樣敏感，對樣品形狀也無(wú)特殊要求。

　　3、在能量色散譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線(xiàn)光子同時(shí)進(jìn)入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎,也能清楚地表明背景和干擾線(xiàn)。因此,半導體檢測器X射線(xiàn)光譜儀能比晶體X射線(xiàn)光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

　　4、能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測量整個(gè)分析線(xiàn)脈沖高度分布的積分程度,而不是峰頂強度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線(xiàn)波長(cháng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響,提高凈計數的統計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀(guān)察和測量所有元素，而不是按特定譜線(xiàn)分析特定元素。因此，減小了偶然錯誤判斷某元素的可能性。

　　以上就是日本理學(xué)光譜儀的優(yōu)點(diǎn)，供大家參考！