x熒光光譜儀的應用及優(yōu)點(diǎn)介紹

x熒光光譜儀的應用及優(yōu)點(diǎn)介紹

x熒光分析已廣泛應用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫學(xué)、環(huán)境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域，是一種快速、無(wú)損、多元素同時(shí)測定的分析技術(shù)，可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時(shí)的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。

X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線(xiàn)的強度，也可以獲得各元素的含量信息。

近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應用得也廣泛。

優(yōu)點(diǎn)概述

1) 分析時(shí)間短。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

2) 適用范圍廣。X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定 。

3) 非破壞分析，重現性好。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

4) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

5) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

6) 分析精密度高。