xrf熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法

　　當材料暴露在短波長(cháng)X光檢查，或伽馬射線(xiàn)，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會(huì )“回補”進(jìn)入低軌道，以填補下來(lái)的洞。在“回補”的過(guò)程會(huì )釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。

　　xrf熒光光譜儀工作原理：

　　用X射線(xiàn)照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長(cháng)的熒光X射線(xiàn)，需要把混合的X射線(xiàn)按波長(cháng)分開(kāi)，分別測量不同波的X射線(xiàn)的強度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線(xiàn)熒光光譜儀。由于X光具有一定波長(cháng)，同時(shí)又有一定能量，因此，X射線(xiàn)熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型：波長(cháng)色散型和能量色散型。

　　xrf熒光光譜儀對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無(wú)標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產(chǎn)監控。熒光分析儀分為波長(cháng)色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據布拉格定律將不同能量的譜線(xiàn)分開(kāi)，然后進(jìn)行測量。波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜一般采用X射線(xiàn)管作激發(fā)源，可分為順序式、同時(shí)式譜儀、和順序式與同時(shí)式相結合的譜儀三種類(lèi)型。

　　xrf熒光光譜儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：

　　1、采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來(lái)的損耗。

　　2、測試速率高，可設定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過(guò)計算器實(shí)時(shí)輸出。

　　3、對于一些機械零件可以做到無(wú)損檢測，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無(wú)損檢測。

　　4、分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場(chǎng)分析，從而達到快速檢測。

　　5、分析結果的準確性是建立在化學(xué)分析標樣的基礎上。