新開(kāi)發(fā)的分析技術(shù)：偏振X射線(xiàn)用于熒光分析

  德國斯派克分析儀器公司開(kāi)發(fā)出了一種新技術(shù)，那就是把偏振X射線(xiàn)應用于熒光分析，這種技術(shù)極其成功。

  像如今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種先進(jìn)的分析技術(shù)也成為實(shí)驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。

  斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線(xiàn)熒光光譜儀。

  SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件，由此獲得了較好的靈敏度和準確性。偏振刺激靶的設計，確保激發(fā)的進(jìn)行。12位樣品自動(dòng)交換器、預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

  擴展的偏振光學(xué)系統的輻射源*采用50W低能量的X射線(xiàn)管，可用于Na-U元素的同時(shí)分析。從X射線(xiàn)中發(fā)出的原始X射線(xiàn)通過(guò)高通量偏振光學(xué)系統進(jìn)行轉換，可以得到*偏振且部分單色的X射線(xiàn)，由此能夠高靈敏地測定各種元素。這種分析技術(shù)在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。