X射線(xiàn)熒光光譜儀能分析元素成分含量，優(yōu)點(diǎn)多

點(diǎn)擊次數：1249 更新時(shí)間：2020-05-09

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀是根據X射線(xiàn)熒光光譜的分析方法配置的多通道光譜儀，儀器能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。它主要由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測系統構成。其原理是X射線(xiàn)管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn))，來(lái)激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量或者波長(cháng)。

　　X射線(xiàn)熒光光譜儀具有以下優(yōu)點(diǎn)：

　　1、分析速度高。測定用的時(shí)間與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2、非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

　　3、X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　4、分析精密度高。

　　5、制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

　　6、X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。大多數分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定。

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X射線(xiàn)熒光光譜儀能分析元素成分含量，優(yōu)點(diǎn)多